Microscopia a forza atomica (AFM)
La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica per analizzare la superficie di un materiale rigido fino al livello dell’atomo. AFM utilizza una sonda meccanica per ingrandire le caratteristiche della superficie fino a 100,000,000 di volte e produce immagini 3D della superficie. La tecnica deriva da una tecnologia correlata, chiamata microscopia a scansione di … Leggi tutto